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當(dāng)前位置：首頁(yè)  >  產(chǎn)品中心  >  導(dǎo)電材料絕緣性能試驗(yàn)類  >  介質(zhì)損耗（介電常數(shù)）

  • HJS-I介質(zhì)損耗（介電常數(shù)）測(cè)試系統(tǒng)

    高頻介質(zhì)損耗（介電常數(shù)）測(cè)試系統(tǒng)依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）自動(dòng)測(cè)量的*佳解決方案。

    時(shí)間：2024-06-04
    型號(hào)：HJS-I
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
    瀏覽量：2854
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